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BET, CV, EIS, FTIR, 라만, SEM, TEM, XRD 및 질량 분광의 사용

February 14, 2024

1BET: 주로 재료의 특정 표면 면적을 테스트하는 데 사용됩니다. 이는 재료의 특정 표면 면적에 대한 정보를 제공할 수 있습니다.

 

2. CV: CV 곡선은 필요한 전극 배치 전압, 전류와 같은 많은 정보를 얻기 위해 테스트 할 수 있으며 반도체 산업에서는 DC bias 전압을 얻을 수 있습니다.

 

3. EIS: EIS는 전기 화학적 임피던스 스펙트럼 검사로서 전극 잠재 및 임피던스 정보를 얻을 수 있으며, 이를 통해 내부 시리즈 저항, 병렬 저항,시스템 및 용량 관련 정보.

 

4FTIR: 주로 폴리머 유기 물질을 테스트하고, 다른 폴리머 결합의 존재를 결정하고, 재료의 구조를 결정하는 데 사용됩니다. 단일 키, 이중 키 등과 같이.

 

5라만: 회전 에너지와 진동 에너지를 측정함으로써 재료의 구조를 결정하는 데 사용됩니다.

 

6. SEM: 재료의 표면 형태 및 형태학적 특성. EDX와 협력함으로써 재료의 원소 구성에 대한 정보를 얻을 수 있습니다.

 

7. TEM: 물질의 표면 형태 및 결정성. EDX와 협력함으로써 물질의 기본 구성을 얻을 수 있습니다.

 

8XRD: 주로 물질의 물리적 특성 및 결정 구조를 테스트합니다. 고급 XRD는 또한 다른 결정 형태를 가진 물질의 조성을 테스트 할 수 있습니다.

 

9질량 분광: 주로 액체 단계 질량 분광 및 기상 질량 분광을 포함하여 물질의 화학 조성을 식별하는 데 사용됩니다.